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Les essais de KEMA ont validé l’utilisation des pièces de contact à ressort de performance dans les applications à courant élevé

 

Foothill Ranch, CA, États-Unis – 31 mars 2016 – Bal Seal Engineering, Inc., fournisseur mondial de solutions personnalisées en matière de conduction pour des équipements destinés à des applications à courant élevé, a soumis ses ressorts à spires inclinées Bal Spring™ à des tests par un tiers, afin de démontrer la résistance des ressorts à une exposition et à des cycles au courant de court-circuit KEMA. Les résultats permettront à la société de fournir à ses clients des données de performance vérifiées, notamment des valeurs de courant continu de court-circuit et de crête ainsi que la résistance électrique des ressorts.

Bal_Seal_Spring_200x320_WEBLes essais des ressorts à courant de court-circuit réalisés à partir de deux matériaux en alliage de cuivre à forte conductivité, ont été menés à 1 seconde et à 3 secondes à des niveaux de puissance maximale de 65 000 ampères, afin de déterminer le courant maximal moyen pouvant être supporté par chaque matériau. Un essai supplémentaire a également été mené afin de démontrer le nombre de cycles qu’un ressort pouvait supporter lorsqu’un courant de court-circuit de 3 secondes était appliqué de façon répétée.

Des essais ont été menés au laboratoire de haute puissance KEMA (Chalfont, PA, États-Unis) à l’aide d’un dispositif fabriqué et conçu pour répliquer les configurations de rainures et de ressorts standard couramment utilisées dans les applications à courant élevé telles que les appareillages de commutation à isolation gazeuse. Chaque dispositif comprenait un boîtier, un piston, un ressort et un anneau isolant.

Les ressorts à l’essai étaient installés selon une configuration comprenant un boîtier, à l’aide d’un lubrifiant destiné à simuler une utilisation réelle du client. Le piston et le boîtier étaient en cuivre (UNS C11000) et étaient recouverts d’une couche d’argent de 10 à 15 μm, avec un anneau isolant PEEK destiné à prévenir tout court-circuit éventuel entre la goupille et le boîtier.

 

 

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